Notice catalographique « Scanning electron microscope examination of wire bonds from high reliability devices »
- Titre
- Scanning electron microscope examination of wire bonds from high reliability devices
- Auteur ou éditeur
- Leedy, Kathryn O.
- United States. Dept. of Commerce. National Bureau of Standards
- Lieu de publication
- Washington, D.C.
- Maison d'édition
- Dept. of Commerce, National Bureau of Standards
- Date de publication
- 1973
- Collation
- 28 p.
- Série
- NBS technical note
- Autres titres
- U.S. National Bureau of Standards technical note
- Langue
- English = Anglais
- Sujet
- Scanning electron microscopes
- Microscopes électroniques à balayage
- Pays
- United States
- Type de document
- Monograph = Monographie
- Localisation
- QH 212 S3 L47
- Clé
- 10546
- Collection
- Catalogue