Notice catalographique « Electron beam microanalysis »
- Titre
- Electron beam microanalysis
- Auteur ou éditeur
- Beaman, Donald Robert
- Isasi, J. A.
- Lieu de publication
- Philadelphia
- Maison d'édition
- American Society for Testing and Materials
- Date de publication
- 1972
- Collation
- 79, [1] p. illus. 28 cm.
- Série
- ASTM special technical publication
- Langue
- English = Anglais
- Sujet
- Microchemistry
- Electron probe microanalysis
- Electron microscopes
- Microanalyse par sonde électronique
- Microchimie
- Pays
- United States
- Type de document
- Monograph = Monographie
- Localisation
- QD 98 E4 B4 1972
- Clé
- 5429
- Collection
- Catalogue