Notice catalographique « Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis »
- Titre
- Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
- Auteur ou éditeur
- Newbury, Dale E.
- Lieu de publication
- New York
- Maison d'édition
- Plenum Press
- Date de publication
- 1986
- Collation
- xii, 454 p. : ill. (some col.) ; 24 cm.
- Résumé
- "... a vast amount of information, extremely clearly presented... This is an excellent book..." -- Applied Optics
- Notes
- Includes index.
- Langue
- English = Anglais
- Sujet
- Scanning electron microscopy
- X-ray microanalysis
- Electron probe microanalysis
- Microanalyse par sonde électronique
- ISBN/ISSN
- 0-306-42140-2
- Pays
- United States
- Type de document
- Monograph = Monographie
- Localisation
- QH 212 S3 A38
- Clé
- 7868
- Collection
- Catalogue