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Notice catalographique « Advances in X-ray analysis, volume 50 [CD-ROM] : proceedings of the 55th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis (Denver X-ray Conference) 7-11 August 2006, Denver, Colorado, U.S.A. »

Titre
Advances in X-ray analysis, volume 50 [CD-ROM] : proceedings of the 55th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis (Denver X-ray Conference) 7-11 August 2006, Denver, Colorado, U.S.A.
Auteur ou éditeur
Huang, Ting C.
Lieu de publication
Newtown Square, Pa
Maison d'édition
International Centre for Diffraction Data
Date de publication
2007
Collation
1 computer laser optical disc (4 3/4 in.)
Série
Advances in x-ray analysis
Langue
English = Anglais
Sujet
  • X-rays - Industrial applications - Congresses
  • X-rays - Industrial applications
  • X-ray spectroscopy
  • Spectroscopie des rayons X
  • Rayons X - Applications industrielles
  • Rayons X -- Applications industrielles - Congrès
Pays
United States
Type de document
CD-ROM
Localisation
QC 480.8 C6
Clé
15829
Collection
Catalogue
Date de modification :