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Notice bibliographique du personnel « Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis at CCI »

Titre
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis at CCI
Auteur ou éditeur
Wainwright, Ian N.M.
Date de publication
September 1993
Collation
8-9
Titre de la source
CCI Newsletter
Numéro de la source
, no. 12
Notes
  • Also published in French (tête-bêche): Microscopie électronique à balayage et micro-analyse aux rayons X à l'ICC
  • Aussi publié en français (tête-bêche): Microscopie électronique à balayage et micro-analyse aux rayons X à l'ICC
Langue
English = Anglais
ISBN/ISSN
11803223
Type de document
Journal Article = Article de périodique
Localisation
PER # 11856
Clé
1600
Collection
Staff Bibliography
Date de modification :