Notice catalographique « A rigorous correction procedure for quantitative electron probe microanalysis (COR 2) »
- Titre
- A rigorous correction procedure for quantitative electron probe microanalysis (COR 2)
- Auteur ou éditeur
- Henoc, Jean
- United States. Dept. of Commerce. National Bureau of Standards
- Lieu de publication
- Washington, D.C.
- Maison d'édition
- Dept. of Commerce, National Bureau of Standards
- Date de publication
- 1973
- Collation
- 127 p.
- Série
- NBS technical note
- Autres titres
- U.S. National Bureau of Standards technical note
- Langue
- English = Anglais
- Sujet
- Electron probe microanalysis
- Microanalyse par sonde électronique
- Pays
- United States
- Type de document
- Monograph = Monographie
- Localisation
- QD 98 E4 H38
- Clé
- 10545
- Collection
- Catalogue