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Notice catalographique « Electron beam x-ray microanalysis »

Titre
Electron beam x-ray microanalysis
Auteur ou éditeur
Heinrich, Kurt F. J.
Lieu de publication
New York
Maison d'édition
Van Nostrand Reinhold Co.
Date de publication
1981
Collation
xxiii, 578 p., [4] leaves of plates : ill. ; 24 cm.
Langue
English = Anglais
Sujet
  • Electron probe microanalysis
  • X-ray spectroscopy
  • Microanalyse par sonde électronique
  • Spectroscopie des rayons X
ISBN/ISSN
0-442-23286-1
Pays
United States
Type de document
Monograph = Monographie
Localisation
QD 98 E4 H44
Clé
1693
Collection
Catalogue
Date de modification :