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Notice catalographique « Application of ion beam milling to the characterization of cracks in metals »

Titre
Application of ion beam milling to the characterization of cracks in metals
Auteur ou éditeur
  • Ives, L. K. (Lewis K.), 1937-
  • Harper, Alan, 1957-
  • Ruff, Arthur W.
  • United States. National Bureau of Standards
Lieu de publication
Washington, D.C.
Maison d'édition
U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards : for sale by the Supt. of Docs. U.S. Govt. Print. Off.
Date de publication
1975
Collation
26 p. : ill. ; 26 cm.
Série
NBS technical note
Autres titres
U.S. National Bureau of Standards technical note
Langue
English = Anglais
Sujet
  • Metallography
  • Ion bombardment
  • Electron microscopy
  • Metals - Fracture
  • Sputtering (Physics)
  • Microscopie électronique
  • Métallographie
Pays
United States
Type de document
Monograph = Monographie
Localisation
TN 690 I93
Clé
4379
Collection
Catalogue
Date de modification :