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Accuracy in trace analysis : sampling, sample handling, analysis : proceedings of the 7th Materials Research Symposium held at the National Bureau of Standards, Gaithersburg, Md., October 7-11, 1974
LaFleur, Philip D.. Washington, D.C.: U.S. Dept. of Commerce National Bureau of Standards : for sale by the Supt. of Docs. U.S. Govt. Print. Off., 1976.QD 139 T7 M37 1974 (Catalogue)