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Electron beam x-ray microanalysis
Heinrich, Kurt F. J.. New York: Van Nostrand Reinhold Co., 1981.QD 98 E4 H44 (Catalogue)
A simple correction procedure for quantitative electron probe microanalysis
Heinrich, Kurt F. J.; United States. National Bureau of Standards. Washington, D.C.: U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards, 1972.QD 98 E4 H45 (Catalogue)